電子轟擊電荷耦合器件（EBCCD）是圖像增強(qiáng)器和CCD攝像機(jī)是為在非常低的光水平成像的標(biāo)本在熒光顯微鏡下可使用的混合體。 在該裝置中，光子被類似于在圖像增強(qiáng)器的光電檢測。 所釋放的電子被跨越的薄型背照式CCD的背面?zhèn)鹊拈g隙和沖擊加速。

這些高能電子產(chǎn)生多電荷在CCD上產(chǎn)生幾百溫和上升。 圖1示出的電子轟擊在CCD的光電子加速由高電壓梯度（1.5?2.0千伏特），直接影響到背照式CCD于視頻速率操作的設(shè)計(jì)。

該設(shè)備的過度冷卻，慢掃描CCD的優(yōu)點(diǎn)是附加的增益和相應(yīng)的速度。 EBCCDs也表明，由于在CCD讀出的設(shè)計(jì)改進(jìn)，片上集成的能力，并為各種讀出速率和格式，如選擇無顯著幾何失真或著色，相對(duì)低噪音（40電子/像素）分級(jí)和抽樣。 的主要缺點(diǎn)是光電的下量子效率（30％）相比，該未修飾的薄型背照式CCD（80％至90％）和相比于單獨(dú)的薄型背照式CCD的調(diào)制傳遞函數(shù)的一個(gè)顯著退化（參見圖2）。（本文來源：奧林巴斯顯微鏡成像，什么是EBCCDs？）

該EBCCD的動(dòng)態(tài)范圍的限制，也增加了增益的結(jié)果。 這是因?yàn)槊總€(gè)光電子產(chǎn)生約300電子/空穴對(duì)造成孔填比起普通的CCD快300倍。 其結(jié)果是，具有全阱容量為15萬的電子的CCD是完全由僅500光子填充。

相比，增強(qiáng)型CCD，電子轟擊CCD通常具有更高的空間分辨率和更好的信號(hào) - 噪聲比在中等光照水平，但有限的增益調(diào)整范圍和適度的低光量的檢測能力使EBCCD固狀態(tài)相當(dāng)于過時(shí)的硅增強(qiáng)靶（SIT）的相機(jī)。